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《Quantitative Infrared Thermography Journal》雜志主要接收以下類型的文章：

INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION-MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING領域的研究?：文章內容涵蓋MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING領域的最新研究成果、技術革新和學術動態。

高質量學術論文?：雜志對文章質量要求較高，通常接收具有創新性和學術價值的研究成果。

投稿要求

內容要求：投稿的文章應涵蓋工程技術的關鍵主題，提供最新的研究進展和學術動態。

格式要求：投稿者需要遵循《Quantitative Infrared Thermography Journal》雜志的投稿要求和格式規范，包括文章結構、引用格式等。

其他信息

《Quantitative Infrared Thermography Journal》雜志出版周期：Semiannual，出版地區：FRANCE，語言：English。

該雜志屬于中科院分區中大類學科工程技術領域的3區，小類學科MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING材料科學：表征與測試領域的2區。小類學科INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION儀器儀表領域的3區。小類學科PHYSICS, APPLIED物理：應用領域的3區。

投稿咨詢

在JCR分區中為Q1（ 按JIF指標學科分區學科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q1區，排名17 / 76，百分位78.3%；MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING，收錄子集：SCIE，位于Q1區，排名6 / 38，百分位85.5%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名56 / 179，百分位69%； 按JCI指標學科分區在學科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q1區，排名18 / 76，百分位76.97%MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING，收錄子集：SCIE，位于Q1區，排名7 / 38，百分位82.89%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名45 / 179，百分位75.14% ）。

目前是未開放獲取期刊（OA） ，審稿周期預計為：平均審稿速度為 ，影響因子指數3.7。

該雜志創刊至今，在工程技術-材料科學：表征與測試領域，影響力非凡，對來稿文章質量要求很高，稿件投稿過審難度很大，刊登文章的學術水平和編輯質量在同類雜志中均名列前茅。如果你想在該雜志上發表論文，你可以向編輯部提交文章，但文章必須具有重要意義并代表該領域專業的發展。我們歡迎廣大同領域的研究者提交投稿。

聲明：以上信息摘自網絡公開資料，如有不準確，請聯系我們。