根據最新信息《Microelectronic Engineering》期刊在JCR分區中的排名如下：
按JIF指標學科分區學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名157 / 352，百分位55.5%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q3區，排名94 / 140，百分位33.2%；OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名45 / 119，百分位62.6%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名81 / 179，百分位55%；按JCI指標學科分區在學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q3區，排名179 / 354，百分位49.58%NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，位于Q3區，排名74 / 140，百分位47.5%OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q3區，排名64 / 120，百分位47.08%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區，排名88 / 179，百分位51.12%。
投稿咨詢| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 157 / 352 |
55.5% |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 94 / 140 |
33.2% |
| 學科：OPTICS | SCIE | Q2 | 45 / 119 |
62.6% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 81 / 179 |
55% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 179 / 354 |
49.58% |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 74 / 140 |
47.5% |
| 學科：OPTICS | SCIE | Q3 | 64 / 120 |
47.08% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 88 / 179 |
51.12% |
這表明該刊在工程：電子與電氣領域具有較高的學術影響力和認可度。此外，該刊創刊時間：1983年，影響因子：2.6，出版周期：Monthly、出版商：Elsevier以及收錄情況等信息也為其學術影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數據，現已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術水平，乃至論文質量的重要指標。
聲明：以上信息摘自網絡公開資料，如有不準確，請聯系我們。
